De barrido de iones de campo FIM

Se emplea para el análisis de átomos; las muestras se colocan en una cámara de ultra alto vacío rellena de gas helio (He) o neón (Ne) donde una aguja de metal afilada (punta de < 50 nm. de radio) es colocada y enfriada hasta alcanzar temperaturas criogénicas (20º/100º K = -253,15º/-173,15º C). Al aplicar un campo eléctrico de voltaje positivo de 5.000 a 10.000 voltios sobre la punta. Los átomos de He o Ne cerca de la punta son polarizados por este y el fuerte campo eléctrico que existe en las proximidades, y atraídos hacia la superficie de la punta.

Microscopio de haz de iones de helio y neón

Microscopio Zeiss de haz de iones de helio y neón

En la punta, son ionizados por electrones “tunelados” (efecto túnel) de la superficie. Los iones positivos resultantes, son acelerados a lo largo de las lineas del campo eléctrico hacia una pantalla donde se forma una imagen muy amplificada de la superficie de la punta, mostrando así los átomos individuales. El microscopio FIM, ha permitido la obtención de imágenes muy nítidas a escala atómica.

Principio del campo iónizado en microscopio FIM

Principio de campo ionizado en microscopio FIM

Aplicaciones

  • Análisis de átomos.
  • Estudio o microanálisis de nanomateriales.
  • Elaboración de microsondas para microscopios de barrido con sondas.

Vaso criogénico de helioVASO DEWAR

Recipiente diseñado para almacenar líquidos, fríos o calientes y proporcionar aislamiento térmico reduciendo las pérdidas de calor por conducción, convección o radiación. Su principal uso es el almacenamiento de Nitrógeno y oxígeno líquido durante mucho tiempo sin necesidad de refrigeración.

Nitrógeno (N): punto de ebullición, 77º K = -196,15º C

Oxígeno (O): punto de ebullición, 90º K = -183,15º C

Helio (He): punto de ebullición, 4,2º K = -268,95º C

Neón (Ne): punto de ebullición, 27,10º K = -246,05º C

Para el almacenamiento de Helio, el vaso debe tener cuatro capas de vidrio y la separación entre paredes se rellena con nitrógeno líquido.

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